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Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1

簡(jiǎn)要描述:Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1
我們擁有一系列高性能,高可靠性的單個(gè)熒光帶通濾光片,這些濾光片已針對各種熒光儀器進(jìn)行了優(yōu)化。這些濾光片只利用我們的單基層結構,以達到最高的性能和可靠度。

  • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2021-04-26
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:643

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Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1

我們擁有一系列高性能,高可靠性的單個(gè)熒光帶通濾光片,這些濾光片已針對各種熒光儀器進(jìn)行了優(yōu)化。這些濾光片只利用我們的單基層結構,以達到最高的性能和可靠度。

除非另有說(shuō)明,否則所有過(guò)濾器均采用標準25 mm圓形黑色陽(yáng)極氧化鋁環(huán)封裝,其厚度如圖所示,透明孔徑至少為21 mm。用“- d”表示的部件將被卸載。

Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1

中心波長(cháng)

平均透射率以及帶寬

安裝尺寸(直徑x厚度)

玻璃厚度

型號

403 nm

See VersaChrome EdgeTM filters, page 78

FF01-403/95-25

405 nm

See Laser Diode Clean-Up filters, page 94

LD01-405/10-25

405 nm

> 87% over 10 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-405/10-25

405 nm

> 90% over 150 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-405/150-25

406 nm

> 85% over 15 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-406/15-25

414 nm

> 90% over 46 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-414/46-25

415 nm

> 90% over 10 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-415/10-25

417 nm

> 90% over 60 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-417/60-25

420 nm

> 90% over 5 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-420/5-25

420 nm

> 90% over 10 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-420/10-25

425 nm

> 90% over 26 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-425/26-25

427 nm

> 93% over 10 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-427/10-25

433 nm

> 93% over 24 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-433/24-25

434 nm

> 90% over 17 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-434/17-25

435 nm

> 90% over 40 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-435/40-25

438 nm

> 93% over 24 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-438/24-25

439 nm

> 93% over 154 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-439/154-25

440 nm

> 93% over 40 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-440/40-25

442 nm

> 90% over 46 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-442/46-25

445 nm

> 93% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-445/20-25

445 nm

> 90% over 40 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-445/40-25

445 nm

> 90% over 45 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-445/45-25

447 nm

> 93% over 60 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF02-447/60-25

448 nm

> 93% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-448/20-25

450 nm

> 90% over 70 mm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-450/70-25

452 nm

> 93% over 45 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-452/45-25

457 nm

> 90% over 50 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-457/50-25

458 nm

> 90% over 64 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-458/64-25

460 nm

> 90% over 14 nm

25 mm x 5.0 mm

3.0 mm

FF01-460/14-25

460 nm

> 90% over 60 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-460/60-25

460 nm

> 90% over 80 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-460/80-25

461 nm

> 90% over 5 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-461/5-25

465 nm

> 90% over 30 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-465/30-25

466 nm

> 90% over 5 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-466/5-25

466 nm

> 93% over 40 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-466/40-25

469 nm

> 90% over 35 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-469/35-25

470 nm

> 93% over 22 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-470/22-25

470 nm

> 90% over 28 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-470/28-25

470 nm

> 93% over 100 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-470/100-25

472 nm

> 93% over 30 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-472/30-25

473 nm

> 90% over 10 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-473/10-25

474 nm

> 93% over 23 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-474/23-25

474 nm

> 93% over 27 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-474/27-25

475 nm

> 90% over 20 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF02-475/20-25

475 nm

> 92% over 23 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-475/23-25

475 nm

> 90% over 28 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-475/28-25

475 nm

> 90% over 35 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-475/35-25

475 nm

> 90% over 42 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-475/42-25

475 nm

> 93% over 50 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-475/50-25

479 nm

> 90% over 40 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-479/40-25

480 nm

> 92% over 17 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-480/17-25

480 nm

> 90% over 40 nm

25 mm x 3.5 mm

1.05 mm

FF01-480/40-25

482 nm

> 93% over 18 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-482/18-25

482 nm

> 93% over 25 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-482/25-25

482 nm

> 93% over 35 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-482/35-25

483 nm

> 93% over 32 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-483/32-25

485 nm

> 93% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-485/20-25

488 nm

> 90% over 6 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-488/6-25

488 nm

> 93% over 10 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-488/10-25

488 nm

> 93% over 50 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-488/50-25

490 nm

> 93% over 60 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-490/60-25

494 nm

> 93% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-494/20-25

494 nm

> 90% over 41 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-494/41-25

496 nm

> 90% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

3.0 mm

FF01-496/20-25

497 nm

> 90% over 16 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-497/16-25

500 nm

> 90% over 10 nm

25 mm x 3.5 mm

1.05 mm

FF01-500/10-25

500 nm

> 93% over 15 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-500/15-25

500 nm

> 93% over 24 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-500/24-25

503 nm

> 93% over 40 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-503/40-25

504 nm

> 93% over 12 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-504/12-25

509 nm

> 93% over 22 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-509/22-25

510 nm

> 93% over 10 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF02-510/10-25

510 nm

> 93% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF03-510/20-25

510 nm

> 90% over 42 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-510/42-25

510 nm

> 93% over 84 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-510/84-25

511 nm

> 90% over 20 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-511/20-25

512 nm

> 92% over 25 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-512/25-25

513 nm

> 90% over 17 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-513/17-25

514 nm

> 93% over 3 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-514/3 -25

514 nm

> 93% over 30 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-514/30-25

514 nm

> 93% over 44 nm

25 mm x 3.5 mm

1.05 mm

FF01-514/44-25

517 nm

> 90% over 20 nm

25 mm x 5.0 mm

3.5 mm

FF01-517/20-25

520 nm

> 93% over 5 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-520/5-25

520 nm

> 93% over 15 nm

25 mm x 5.0 mm

2.0 mm

FF01-520/15-25

520 nm

> 93% over 28 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF02-520/28-25

520 nm

> 93% over 35 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-520/35-25

520 nm

> 90% over 44 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-520/44-25

520 nm

> 90% over 60 nm

25 mm x 3.5 mm

2.0 mm

FF01-520/60-25

 

光學(xué)濾光片簡(jiǎn)介

濾光片選擇性地透射光譜的一部分,同時(shí)拒絕透射其余部分。愛(ài)特蒙特光學(xué)的光學(xué)濾光片常用于顯微鏡、光譜學(xué)、化學(xué)分析和機器視覺(jué),可提供各種過(guò)濾類(lèi)型和精度等級。本應用筆記介紹了用于制造愛(ài)特蒙特光學(xué)濾光片的不同技術(shù)、一些關(guān)鍵規范的定義以及愛(ài)特蒙特光學(xué)提供的各種濾光片的描述。

光學(xué)濾光片關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)

雖然濾光片與其他光學(xué)組件有許多相同的規范,但是為了有效地了解并確定哪種濾光片適合您的應用,應該了解濾光片中的許多特定規范。

中心波長(cháng) (CWL)

用于定義帶通濾光片的中心波長(cháng)描述頻譜帶寬的中點(diǎn),濾光片在此之上傳輸。傳統的鍍膜光學(xué)濾光片傾向于在中心波長(cháng)附近達到大的透射率,而鍍加硬膜的光學(xué)濾光片往往在光譜帶寬上有相當平坦的傳輸輪廓。

帶寬

帶寬是一個(gè)波長(cháng)范圍,用于表示頻譜通過(guò)入射能量穿過(guò)濾光片的特定部分。帶寬又稱(chēng)為FWHM(圖1)。



圖 1: 中心波長(cháng)和半峰全寬說(shuō)明

半峰全寬 (FWHM)

FWHM
描述帶通濾光片將傳輸的頻譜帶寬。該帶寬的上限和下限是在濾光片達到大透射率的 50% 時(shí)的波長(cháng)下定義的。例如,如果濾光片的大透射率是 90%,那么濾光片達到透射率之 45% 時(shí)的波長(cháng)將定義 FWHM 的上限和下限。10 納米或更低的 FWHM 被認為是窄帶,通常用于激光凈化和化學(xué)檢測。25-50 納米的 FWHM 經(jīng)常用于機器視覺(jué)應用;超過(guò) 50 納米的 FHWM 被認為是寬帶,通常用于熒光顯微鏡應用。

截止范圍

阻斷范圍是用于表示通過(guò)濾光片衰減的能量光譜區域的波長(cháng)間隔(圖2)。阻斷程度通常會(huì )在光密度中定。



圖 2: 截止范圍說(shuō)明

斜率

斜率是通常在邊緣濾光片上定義的規范,如短波通或長(cháng)波通濾光片,用來(lái)描述濾光片從高截止轉換為高透射率的帶寬??梢詮母鞣N起點(diǎn)和終點(diǎn)定斜率,作為截止波長(cháng)的百分比。愛(ài)特蒙特光學(xué)有限公司通常將斜率定義為從 10% 傳輸點(diǎn)到 80% 傳輸點(diǎn)的距離。例如,將期望具有 1% 斜率的 500 納米長(cháng)波通濾光片在 5 納米(500 納米的 1%)帶寬上從 10% 的透射率轉換為 80% 的透射率。

光密度(OD)

光密度描述被濾光片阻斷或拒絕的能量量。高光密度值表示低透射率,低光密度則表示高透射率。6.0或更大的光密度用于兩端的阻斷需求,如拉曼光譜或熒光顯微鏡。3.0-4.0的光密度是激光分離和凈化、機器視覺(jué)和化學(xué)檢測的理想選擇,而 2.0 或更少的光密度是顏色排序和分離光譜順序的理想選擇。


圖3:光密度說(shuō)明


二向色性濾光片

二向色性濾光片是用于取決于波長(cháng)透射率或反射光的濾光片類(lèi)型;特定波長(cháng)范圍透射的光則鑒于不同范圍的光線(xiàn)反射或吸收(圖4)。二向色性濾光片常用于長(cháng)波通和短波通應用。



圖4:二向色性濾光片鍍膜說(shuō)明

起始波長(cháng)

起始波長(cháng)是用于表示在長(cháng)波通濾光片中透射率增加至50%波長(cháng)的術(shù)語(yǔ)。起始波長(cháng)由圖5中的λcut-on起始表示。



圖 5:起始波長(cháng)說(shuō)明

截止波長(cháng)

截止波長(cháng)是用于表示在短波通濾光片中透射率降低至50%波長(cháng)的術(shù)語(yǔ)。截止波長(cháng)由圖6中的λcut-off截止表示。



圖6:截止波長(cháng)說(shuō)明

 


Semrock成功地將穩定*的濺射沉積系統與沉積控制技術(shù),不同的預測算法,工藝改進(jìn)和批量生產(chǎn)能力相結合。Semrock性能優(yōu)良的光學(xué)濾光片為生物技術(shù)和分析儀器行業(yè)樹(shù)立了標準。

Semrock濾光片全部由離子束濺射和專(zhuān)有的單基片結構制成,可實(shí)現較高的透射率。更加陡峭的邊緣,準確的波長(cháng)精度和精心優(yōu)化的遮擋意味著(zhù)更好的對比度和更快的測量-即使在紫外線(xiàn)波長(cháng)下也是如此。

Semrock濾光片具有很長(cháng)的使用壽命和優(yōu)良的性能,可確保獲得優(yōu)良的圖像。與升級相機和物鏡的成本相比,它們可能是提高顯微鏡性能的簡(jiǎn)單經(jīng)濟的方法。

經(jīng)驗證的可靠性

所有Semrock濾光片均具有出色的可靠性。簡(jiǎn)單的全玻璃結構加上離子束濺射硬玻璃涂層(與涂層玻璃一樣堅硬)意味著(zhù)它們幾乎不受濕度和溫度引起的降解的影響,并且易于清潔和處理。

我們充滿(mǎn)信心地為濾光片提供全面保修,讓您放心。我們的濾光片經(jīng)過(guò)精心設計,可以在逐年測試中保持其高水平的性能,并通過(guò)消除費用和更換成本的不確定性來(lái)降低您的擁有成本。

下圖顯示了隨著(zhù)時(shí)間的推移,氙弧燈的暴露如何影響每個(gè)濾光片的光譜特性。一天之后,傳統的軟涂層DAPI濾光片的透射率下降了42%。我們對其他常見(jiàn)的勵磁濾光片進(jìn)行了類(lèi)似的測試,發(fā)現每個(gè)軟涂層濾光片都會(huì )損失傳輸和通帶,而硬涂層Semrock濾光片則不會(huì )受到影響。


Semrock濾光片已經(jīng)過(guò)測試,可以滿(mǎn)足或超過(guò)在苛刻的軍事規格MIL-STD-810F,MIL-C-48497A,MIL-C-675C和國際標準ISO 9022-中規定的環(huán)境和物理耐久性要求。

可重復的結果

無(wú)論您是從一次運行還是從最后一次運行使用濾光片,結果都將始終相同。 我們高度自動(dòng)化的批量生產(chǎn)系統會(huì )密切監控流程的每個(gè)步驟,以確保每個(gè)濾光片的質(zhì)量和性能。 最終用戶(hù)受益于濾光片之間可變性的降低,OEM制造商可以依靠安全可靠的供應線(xiàn)。


 

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Kola Deep™光譜測量系統:測量更深的阻擋


圖1:即使在紫外線(xiàn)遠處,Kola Deep系統也能準確測量狹窄的LaserLine濾光片(Semrock LL01-248),其陡峭的邊緣從高透射率到超過(guò)OD7。藍色顯示的Kola Deep測量值可以準確地跟蹤綠色的理論曲線(xiàn)。 為了進(jìn)行比較,標準光譜儀(Perkin Elmer Lambda 950)的測量結果以紅色顯示,并在OD 3處停止跟蹤邊緣。

可樂(lè )深光譜測量系統將光密度(OD)理論帶入了測量現實(shí)。 我們的工程師開(kāi)發(fā)了一套專(zhuān)有的新系統,可以對Semrock品牌光學(xué)濾波器的陡和深光譜特征進(jìn)行可靠的測量,從而確保您的儀器將提供優(yōu)良的靈敏度。

ØKola Deep可以評估在紫外,可見(jiàn)和近紅外光譜中對OD 9+的阻擋

ØKola Deep解決了相對于邊緣波長(cháng)大于0.2%的邊緣,從90%透射到OD 7以上的問(wèn)題

濾光片的測量

由于標準計量技術(shù)的局限性,經(jīng)常無(wú)法準確地確定薄膜干涉濾光片的測量光譜特性,尤其是在邊緣較陡而較深的情況下。 光學(xué)濾波器提供的實(shí)際阻塞不僅取決于其設計頻譜,還取決于濾波器的物理缺陷,例如在薄膜涂層過(guò)程中產(chǎn)生的針孔以及諸如灰塵或灰塵之類(lèi)的表面缺陷。 使用市場(chǎng)上可買(mǎi)到的分光光度計來(lái)測量光學(xué)濾光片的光譜性能,但是當光學(xué)濾光片具有較高的邊緣陡度和/或非常深的阻塞時(shí),這些儀器可能會(huì )受到重大限制。

由于這些限制,實(shí)際濾波器頻譜與其測得的表示之間存在三個(gè)主要差異(見(jiàn)圖2)。 一個(gè)差異是尖銳的光譜特征的“四舍五入”。 這是由于分光光度計探頭光束的帶寬不為零所致。 第二個(gè)測量差異是有限的OD測量范圍,這是分光光度計靈敏度有限的結果。 第三差異是從高阻塞到高傳輸的非常陡峭過(guò)渡的測量所不同的,被稱(chēng)為“邊帶測量偽像”。 該偽像是由非單色探測光束引起的,該探測光束在其帶寬之外的波長(cháng)處也具有較弱的邊帶。


圖2:使用商用分光光度計觀(guān)察到的測量偽影

Semrock利用替代方法來(lái)評估濾光片光譜。圖3顯示了“ E級”RazorEdge®濾光片的陡峭邊緣的五個(gè)測量光譜,該光譜可確保在OD> 6的情況下阻擋532 nm的激光線(xiàn),并在激光波長(cháng)的0.5%之內過(guò)渡到高透射率(534.7倍)納米)。測得的光譜覆蓋在濾波器的設計光譜上(藍線(xiàn))。如圖所示,測量?jì)x器和技術(shù)極大地影響了濾波器的測量光譜。該圖中的測量方法A來(lái)自定制的分光光度計。此測量使用儀器設置,例如較短的檢測器積分時(shí)間和低分辨率,因為這些設置經(jīng)過(guò)優(yōu)化,可在薄膜濾光片制造過(guò)程中從大量樣品濾光片非??焖俚厥占瘮祿?。但是,這種方法的靈敏度和分辨率很差。測量方法B使用標準的商業(yè)分光光度計(Perkin Elmer Lambda 900系列)。如上所述,實(shí)際濾波器光譜與測量光譜之間的所有差異在此測量中都是顯而易見(jiàn)的。測量方法C和D使用與方法A相同的定制分光光度計。該分光光度計的基本工作原理如圖4所示。該儀器使用低噪聲CMOS攝像頭(即檢測器陣列),能夠測量同時(shí)具有很寬的波長(cháng)范圍。測量方法C使用的儀器設置(主要是積分時(shí)間和分辨率)設計用于增強對陡峭邊緣和深邊緣的測量,但是“邊帶測量偽影”仍然很明顯。測量方法D是對方法C的修改,該方法應用了其他過(guò)濾以消除此偽像。方法E顯示了使用經(jīng)過(guò)仔細過(guò)濾的532 nm激光進(jìn)行的非常準確的測量結果,以及濾光器本身的角度調整。使用理論模型,將實(shí)驗獲得的透射率與角度的數據轉換為透射率與波長(cháng)的結果。此測量方法接近實(shí)際設計曲線(xiàn),但是不適用于大量過(guò)濾器的質(zhì)量保證。


圖3:使用文中所述的不同測量方法,同一濾波器(圖1)的設計和測量光譜


圖4:定制的分光光度計,可實(shí)現更快,更準確的測量

總之,重要的是要了解用于生成光學(xué)濾光片光譜的測量技術(shù),因為這些技術(shù)并不很優(yōu)良。 對給定的過(guò)濾器或應用程序使用適當的測量方法可以減少錯誤,并減少使用過(guò)濾器的實(shí)驗和系統的過(guò)度設計,從而優(yōu)化性能,結果,甚至過(guò)濾器成本。

 

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